一.能量色散Ｘ熒光光譜儀Thick 800簡單介紹;
能量色散Ｘ熒光光譜儀Thick 800主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量。
二.詳細介紹
應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
技術指標：
元素分析范圍：從K到U
一次性可同時分析多層鍍層
分析厚度檢測出限zui高達0.01um
同時可分析多達5層以上鍍層
相互獨立的基體效應校正模型，厚度分析方法
多次測量重復性zui高可達0.01um
長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
溫度適應范圍：15℃~30℃
輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
配置
開放式樣品腔
二維移動樣品平臺
探測器和X光管上下移動可實現(xiàn)三維移動
雙激光定位裝置
準直器自動切換裝置
玻璃屏蔽罩
正比計數(shù)盒探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
X光管
計算機及噴墨打印機
樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
外型尺寸：648mm×490mm×544mm
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